Hong-Chih Chen: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (29)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Impact of Dehydrogenation Annealing Process Temperature on Reliability of Polycrystalline Silicon Thin Film Transistors

Huang, Shin-Ping, Chen, Po-Hsun, Chen, Hong-Chih, Zheng, Yu-Zhe, Chu, Ann-Kuo, Tsao, Yu-Ching, Shih, Yu-Shan, Wang, Yu-Xuan, Wu, Chia-Chuan, Lai, Wei-Chih, Chang, Ting-Chang

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 821 KB

english, 2019

2

Analysis of Negative Bias Temperature Instability Degradation in P-type Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors of Different Grain Sizes

Tu, Hong-Yi, Tsao, Yu-Ching, Tai, Mao-Chou, Chang, Ting-Chang, Tsai, Yu-Lin, Huang, Shin-Ping, Zheng, Yu-Zhe, Wang, Yu-Xuan, Chen, Hong-Chih, Tsai, Tsung-Ming, Wu, Chia-Chuan

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 875 KB

english, 2019

3

Impact of Gate Size on Abnormal Current Rise Under an Electric Field in Organic Thin-Film Transistors

Chen, Hong-Chih, Huang, Hui-Chun, Wu, Wen-Chi, Lai, Wei-Chih, Chang, Ting-Chang, Chen, Guan-Fu, Chen, Jian-Jie, Kuo, Chuan-Wei, Zhou, Kuan-Ju, Tu, Yu-Fa, Lu, I-Nien, Shih, Yu-Shan, Sun, Li-Chuan

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2020

Файл:

PDF, 2.46 MB

2020

4

Perinatal imaging findings of inherited Sotos syndrome

Chih-Ping Chen, Shuan-Pei Lin, Tung-Yao Chang, Nan-Chang Chiu, Shin-Lin Shih, Chen-Ju Lin, Wayseen Wang, Hong-Chih Hsu

Журнал:

Prenatal Diagnosis

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 227 KB

english, 2002

5

Fabrication and test of radial grooved micro heat pipes

Shung-Wen Kang, Sheng-Hong Tsai, Hong-Chih Chen

Журнал:

Applied Thermal Engineering

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 416 KB

english, 2002

6

Generating effective defined-contribution pension plan using simulation optimization approach

Tzu-Yi Yu, Hong-Chih Huang, Chun-Lung Chen, Qun-Ting Lin

Журнал:

Expert Systems with Applications

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 217 KB

english, 2012

7

Neonatal listeriosis in Taiwan, 1990–2007

Wu-Shiun Hsieh, Li-Yi Tsai, Suh-Fang Jeng, Chyong-Hsin Hsu, Hong-Chih Lin, Po-Ren Hsueh, Chien-Yi Chen, Hung-Chieh Chou, Po-Nien Tsao, Peng-Hong Yang

Журнал:

International Journal of Infectious Diseases

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 120 KB

english, 2009

8

Clinical pattern of liver injury in drug reaction with eosinophilia and systemic symptoms (DRESS): a retrospective study in Taiwan

Kai-Lung Chen,I-Chun Lin,Hong-Chih Yang…

Журнал:

Clinical and Translational Allergy

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 232 KB

english, 2014

9

Abnormal Dual Channel Formation Induced by Hydrogen Diffusion From SiN x Interlayer Dielectric in Top Gate a-InGaZnO Transistors

Chen, Guan-Fu, Chang, Ting-Chang, Chen, Hua-Mao, Chen, Bo-Wei, Chen, Hong-Chih, Li, Cheng-Ya, Tai, Ya-Hsiang, Hung, Yu-Ju, Chang, Kuo-Jui, Cheng, Kai-Chung, Huang, Chen-Shuo, Chen, Kuo-Kuang, Lu, Hsue

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 546 KB

english, 2017

10

Cyclical Annealing Technique To Enhance Reliability of Amorphous Metal Oxide Thin Film Transistors

Chen, Hong-Chih, Chang, Ting-Chang, Lai, Wei-Chih, Chen, Guan-Fu, Chen, Bo-Wei, Hung, Yu-Ju, Chang, Kuo-Jui, Cheng, Kai-Chung, Huang, Chen-Shuo, Chen, Kuo-Kuang, Lu, Hsueh-Hsing, Lin, Yu-Hsin

Журнал:

ACS Applied Materials & Interfaces

Рік:

2018

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.59 MB

english, 2018

11

Abnormal Unsaturated Output Characteristics in a-InGaZnO TFTs with Light Shielding Layer

Chen, Hong-Chih, Zhou, Kuan-Ju, Chen, Po-Hsun, Chen, Guan-Fu, Huang, Shin-Ping, Chen, Jian-Jie, Kuo, Chuan-Wei, Tsao, Yu-Ching, Tai, Mao-Chou, Chu, An-Kuo, Lai, Wei-Chih, Chang, Ting-Chang

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 797 KB

english, 2019

12

Abnormal Unsaturated Output Characteristics in a-InGaZnO TFTs with Light Shielding Layer

Chen, Hong-Chih, Zhou, Kuan-Ju, Chen, Po-Hsun, Chen, Guan-Fu, Huang, Shin-Ping, Chen, Jian-Jie, Kuo, Chuan-Wei, Tsao, Yu-Ching, Tai, Mao-Chou, Chu, An-Kuo, Lai, Wei-Chih, Chang, Ting-Chang

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Файл:

PDF, 797 KB

2019

13

A Novel Heat Dissipation Structure for Inhibiting Hydrogen Diffusion in Top-Gate a-InGaZnO TFTs

Chen, Hong-Chih, Chen, Guan-Fu, Chen, Po-Hsun, Huang, Shin-Ping, Chen, Jian-Jie, Zhou, Kuan-Ju, Kuo, Chuan-Wei, Tsao, Yu-Ching, Chu, An-Kuo, Huang, Hui-Chun, Lai, Wei-Chih, Chang, Ting-Chang

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.66 MB

english, 2019

14

Enhancing Repetitive Uniaxial Mechanical Bending Endurance at ${R} = 2$ mm Using an Organic Trench Structure in Foldable Low Temperature Poly-Si Thin-Film Transistors

Huang, Shin-Ping, Zheng, Yu-Zhe, Chang, Ting-Chang, Chen, Bo-Wei, Chen, Po-Hsun, Chu, Ann-Kuo, Chen, Hong-Chih, Tsao, Yu-Ching, Chen, Min-Chen, Chen, Wei-Han, Wang, Terry Tai-Jui, Kanicki, Jerzy, Zhan

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.29 MB

english, 2019

15

An Energy-Band Model for Dual-Gate-Voltage Sweeping in Hydrogenated Amorphous Silicon Thin-Film Transistors

Chen, Guan-Fu, Chen, Hong-Chih, Chang, Ting-Chang, Huang, Shin-Ping, Chen, Hua-Mao, Liao, Po-Yung, Chen, Jian-Jie, Kuo, Chuan-Wei, Lai, Wei-Chih, Chu, Ann-Kuo, Lin, Sung-Chun, Yeh, Cheng-Yen, Chang, C

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.17 MB

english, 2019

16

Investigation of the Capacitance–Voltage Electrical Characteristics of Thin-film Transistors Caused by Hydrogen Diffusion under Negative Bias Stress in a Moist Environment

Chen, Hong-Chih, Kuo, Chuan-Wei, Chang, Ting-Chang, Lai, Wei-Chih, Chen, Po-Hsun, Chen, Guan-Fu, Huang, Shin-Ping, Chen, Jian-Jie, Zhou, Kuan-Ju, Shih, Chih-Cheng, Tsao, Yu-Ching, Huang, Hui-Chun, Sze

Журнал:

ACS Applied Materials & Interfaces

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.43 MB

english, 2019

17

Investigation of the Capacitance–Voltage Electrical Characteristics of Thin-film Transistors Caused by Hydrogen Diffusion under Negative Bias Stress in a Moist Environment

Chen, Hong-Chih, Kuo, Chuan-Wei, Chang, Ting-Chang, Lai, Wei-Chih, Chen, Po-Hsun, Chen, Guan-Fu, Huang, Shin-Ping, Chen, Jian-Jie, Zhou, Kuan-Ju, Shih, Chih-Cheng, Tsao, Yu-Ching, Huang, Hui-Chun, Sze

Журнал:

ACS Applied Materials & Interfaces

Рік:

2019

Файл:

PDF, 1.43 MB

2019

18

Abnormal ${C}$ –${V}$ Hump Effect Induced by Hot Carriers in Gate Length-Dependent p-Type LTPS TFTs

Huang, Shin-Ping, Shih, Yao-Kai, Chung, Yu-Hua, Chen, Wei-Han, Wang, Terry Tai-Jui, Zhang, Sheng-Dong, Chang, Ting-Chang, Chen, Po-Hsun, Tsao, Yu-Ching, Chen, Hong-Chih, Zheng, Yu-Zhe, Chu, Ann-Kuo, S

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.06 MB

english, 2019

19

Abnormal Back Channel Leakage Under Large Drain Voltage in Short Channel Organic Thin-Film Transistors

Chen, Guan-Fu, Lin, Sung-Chun, Yu, Ming-Chang, Chuang, Yao-Chih, Zhang, Shengdong, Chen, Hong-Chih, Chang, Ting-Chang, Huang, Shin-Ping, Zhou, Kuan-Ju, Chen, Jian-Jie, Kuo, Chuan-Wei, Su, Wan-Ching, T

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 843 KB

english, 2019

20

Abnormal ${C}$ –${V}$ Hump Effect Induced by Hot Carriers in Gate Length-Dependent p-Type LTPS TFTs

Huang, Shin-Ping, Shih, Yao-Kai, Chung, Yu-Hua, Chen, Wei-Han, Wang, Terry Tai-Jui, Zhang, Sheng-Dong, Chang, Ting-Chang, Chen, Po-Hsun, Tsao, Yu-Ching, Chen, Hong-Chih, Zheng, Yu-Zhe, Chu, Ann-Kuo, S

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2019

Файл:

PDF, 1.06 MB

2019

21

Abnormal High Resistive State Current Mechanism Transformation in Ti/HfO2/TiN Resistive Random Access Memory

Zhou, Kuan-Ju, Tan, Yung-Fang, Wu, Chung-Wei, Yeh, Yu-Hsuan, Sze, Simon M., Chang, Ting-Chang, Lin, Chih-Yang, Chen, Chun-Kuei, Tseng, Yi-Ting, Zheng, Hao-Xuan, Chen, Hong-Chih, Sun, Li-Chuan, Lien, C

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Файл:

PDF, 1.45 MB

2019

22

Abnormal Back Channel Leakage Under Large Drain Voltage in Short Channel Organic Thin-Film Transistors

Chen, Guan-Fu, Lin, Sung-Chun, Yu, Ming-Chang, Chuang, Yao-Chih, Zhang, Shengdong, Chen, Hong-Chih, Chang, Ting-Chang, Huang, Shin-Ping, Zhou, Kuan-Ju, Chen, Jian-Jie, Kuo, Chuan-Wei, Su, Wan-Ching, T

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Файл:

PDF, 843 KB

2019

23

Influence of Hot Carriers and Illumination Stress on a-InGaZnO TFTs with Asymmetrical Geometry

Hung, Yang-Hao, Chang, Ting-Chang, Chen, Po-Hsun, Liao, Po-Yung, Su, Wan-Ching, Chen, Hong-Chih, Tu, Yu-Fa, Zheng, Yu-Zhe, Lu, I-Nien, Lin, Yu-Shan, Ciou, Fong-Min, Tsai, Tsung-Ming

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2020

Мова:

english

Файл:

PDF, 774 KB

english, 2020

24

Formation of Hump Effect Due to Top-Gate Bias Stress in Organic Thin-Film Transistors

Chen, Hong-Chih, Tsao, Yu-Ching, Chu, An-Kuo, Huang, Hui-Chun, Lai, Wei-Chih, Chen, Guan-Fu, Huang, Shin-Ping, Chang, Ting-Chang, Chen, Po-Hsun, Chen, Jian-Jie, Kuo, Chuan-Wei, Zhou, Kuan-Ju, Hung, Ya

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2019

Файл:

PDF, 1.36 MB

2019

25

Effects of Redundant Electrode Width on Stability of a-InGaZnO Thin-Film Transistors Under Hot-Carrier Stress

Lin, Dong, Su, Wan-Ching, Chang, Ting-Chang, Chen, Hong-Chih, Tu, Yu-Fa, Yang, Jianwen, Zhou, Kuan-Ju, Hung, Yang-Hao, Lu, I-Nien, Tsai, Tsung-Ming, Zhang, Qun

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2020

Файл:

PDF, 1.50 MB

2020

26

Abnormal Hump Effect Induced by Hydrogen Diffusion During Self-Heating Stress in Top-Gate Amorphous InGaZnO TFTs

Chen, Hong-Chih, Chen, Jian-Jie, Tu, Yu-Fa, Zhou, Kuan-Ju, Kuo, Chuan-Wei, Su, Wan-Ching, Hung, Yang-Hao, Shih, Yu-Shan, Huang, Hui-Chun, Tsai, Tsung-Ming, Huang, Jen-Wei, Lai, Wei-Chih, Chang, Ting-C

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2020

Файл:

PDF, 2.16 MB

2020

27

Improving a-InGaZnO TFTs Reliability by Optimizing Electrode Capping Structure under Negative Bias Illumination Stress

Tu, Yu-Fa, Lu, I-Nien, Chen, Hong-Chih, Su, Wan-Ching, Hung, Yang-Hao, Zhou, Kuan-Ju, Zheng, Yu-Zhe, Sun, Li-Chuan, Shih, Yu-Shan, Chen, Jian-Jie, Lien, Chih-Ying, Huang, Hui-Chun, Lien, Chen-Hsin, Ch

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2020

Файл:

PDF, 939 KB

2020

28

Effect of ELA Energy Density on Self-Heating Stress in Low-Temperature Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors

Huang, Shin-Ping, Chen, Hong-Chih, Chen, Po-Hsun, Zheng, Yu-Zhe, Chu, Ann-Kuo, Shih, Yu-Shan, Wang, Yu-Xuan, Wu, Chia-Chuan, Chen, Yu-An, Sun, Pei-Jun, Huang, Hui-Chun, Lai, Wei-Chih, Chang, Ting-Chan

Журнал:

IEEE Transactions on Electron Devices

Рік:

2020

Файл:

PDF, 973 KB

2020

29

Enhancing Hot-Carrier Reliability of Dual-Gate Low-Temperature Polysilicon TFTs by Increasing Lightly Doped Drain Length

Chen, Jian-Jie, Chang, Ting-Chang, Chen, Hong-Chih, Zhou, Kuan-Ju, Kuo, Chuan-Wei, Wu, Wen-Chi, Li, Hsin-Chieh, Tai, Mao-Chou, Tu, Yu-Fa, Tsai, Yu-Lin, Wu, Pei-Yu, Sze, Simon M.

Журнал:

IEEE Electron Device Letters

Рік:

2020

Файл:

PDF, 2.48 MB

2020